在學研與企業合作方面，國立中山大學與英國科學儀器設備商牛津儀器 (Oxford Instruments)交流新型半導體量測技術，透過牛津儀器之新型 X-ray偵測器與現有電子顯微鏡，提供中山大學實驗室所製備之試片更快速且精準的材料分析。未來可望協助業者更快評估晶片製造品質並優化製程參數，提升半導體製程優化效率。